半导体芯片 可靠性测试设备
低温恒温 专用设备
可靠性环境 模拟试验设备
服务范围
测试周期
GJB 899A-2009 可靠性鉴定和验收试验
GJB 899-1990 可靠性鉴定和验收试验
GJB1621.8A-2006 技术侦察装备通用技术要求 第8部分: 可靠性指标和验证试验方法
检测项目
可靠性增长试验、可靠性摸底试验
可靠性鉴定试验
可靠性验收试验
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