解决方案-无锡迈步智能装备有限公司

半导体行业

当今，无论是各路资本争相进入的AI行业还是已经引起多国政府关注的芯片技术，这一切离不开半导体的支持。在我们越来越依赖半导体的同时，又对它们的安全性和工作寿命提出了更高的要求。那么我们又如何预知它们的寿命呢？答案只有一个：模拟和筛选。迈步智能装备有着各类符合行业最高标准的环境试验设备和老化设备为您提供判断依据，让您的产品出厂无忧。

检测对象

试验项目

试验标准

解决方案（可点击对应产品查看详情）

功率半导体器件

温度循环 TC

JESD22-A104

两箱冷热冲击试验箱

低温存储试验 LTSL

JESD22-A11

超低温试验箱

高温存储试验 HTS

GB/T 4937-1995 第Ⅲ 篇 2 GB/T 2424.19-2005 JESD22-A103C

高温贮存箱

稳态湿热试验 STH

JESD22-A101C 5

稳态湿热试验箱

高温高湿偏压 H3TRB

AEC -Q101 JESD22A-101

H3TRB高温高湿反偏老化测试系统

高温反偏 HTRB

JESD22-A108

HTRB高温反偏老化测试系统

高温栅反偏试验 HTGB

JESD22A-108 AEC-Q101

HTGB高温栅反偏老化测试系统

间歇工作寿命 IOL

JESD22-A122

IOL间歇寿命老化测试系统

高压加速寿命试验 PCT

JESD22-A11

高压蒸煮寿命箱 PCT

高加速老化试验 HAST

JESD22-A110

HAST高加速寿命偏压老化测试系统

不偏压高速老化 UHAST

JESD22-A110

UHAST 不偏压高速老化测试系统

盐雾腐蚀试验 SST

GBT2423.17-93

温度湿度盐雾复合式试验箱
IGBT 模块 IPM 模块 SIC

温度循环 TC

JESD22-A104

三箱冷热冲击试验箱

低温存储试验 LTSL

JESD22-A11

超低温试验箱

高温存储试验 HTS

JESD22-A103C

高温贮存箱

稳态湿热试验 STH

JESD22-A101C 5

稳态湿热试验箱

高温高湿偏压 H3TRB

AEC-Q101 JESD22A-101

H3TRB高温高湿反偏老化测试系统

高温反偏 HTRB

JESD22-A108

HTRB高温反偏老化测试系统

高温栅反偏试验 HTGB

JESD22A-108 AEC-Q101

HTGB高温栅反偏老化测试系统

高压加速寿命试验 PCT

JESD22-A11

高压蒸煮寿命箱 PCT

高加速老化试验

JESD22-A110

HAST高加速寿命偏压老化测试系统
分立器件

温度循环 TC

GB/T 4937-1995 第Ⅲ 篇 1.1 GB/T 2423.22-2012 7 JESD22-A104D

三箱冷热冲击试验箱

低温存储试验 LTSL

JESD22-A11

超低温试验箱

高温存储试验 HTS

JESD22-A103C

高温贮存箱

高温反偏 HTRB

GB/T 15291-1994 6.2 JESD22-A108C

HTRB高温反偏老化测试系统

恒温恒湿(H3TRB)

GB/T 4937-1995第Ⅲ篇 5 GB/T 2423.3-2006 JESD22-A101C

H3TRB高温高湿反偏老化测试系统

高加速耐湿及偏压HAST

GB/T 4937.4-2012 JESD22-A110D

HAST高加速寿命偏压老化测试系统

高压蒸煮(PCT)

JESD22-A102-C

高压蒸煮寿命箱 PCT