HAST高加速寿命偏压老化测试系统-无锡迈步智能装备有限公司

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半导体芯片可靠性测试设备

HAST高加速寿命偏压老化测试系统

HAST高加速寿命偏压老化测试系统适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。

产品特点

符合标准

适用范围

每颗器件的Vgs独立控制。

实时监测每个试验器件的Id、Ig。

控制上、下电时序。

全过程试验数据保存于硬盘中，可输出Excel。

试验报表和绘制全过程漏电流IR变化曲线。

EC-Q100、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等相关标准要求

适用于各种封装形式的射频场效应管、射频功率器件进行温湿度下反偏试验。

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产品参数

产品型号

MB-HAST-380
MB-HAST-380*2

产品名称

高加速寿命偏压老化测试系统

高温试验箱

自制

内箱尺寸

有效尺寸不小于  340XD475mm*2层
有效尺寸不小于  340XD475mm*2层

驱动检测板

4块（1块驱动板可以带2块老化板）
8块（1块驱动板可以带2块老化板）

vds电源

1台
2台

Vgs电源

正、负电源各1台
正、负电源各2台

二级Vgs电源

40路/板
40路/板

试验容量

120颗(可以按要求定制工位)
240颗(可以按要求定制工位)

老化试验板

专用耐高温基板,耐高温老化座,接口镀金处理。

上位机

工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标

基本功能

●试验参数（Vds、Vgs、Ta、RH）设定
●试验参数（Vds/Id、Vgs/Ig、Ta、RH）上限设定
●实时监测显示老化参数（Vds/Id、Vgs/Ig、Ta、RH）及老化时间、老化进度
●实时记录保存老化参数（Vds/Id、Vgs/Ig、Ta、RH）
●实时判断漏电流量是否超限,超限报警切断该回路的试验电压
●老化参数方便调用、可生成试验报表、可绘制漏电流变化曲线

联网功能

可实现电脑端网络监控或者手机端APP监控。

电网要求

三相AC380V，8KW
三相AC380V，6KW

外形尺寸

HAST箱子:WXDXH:71X95X195(cm)
控制柜:WXDXH:60X105X170(cm)
HAST箱子:WXDXH:71X95X195(cm)
控制柜:WXDXH:60X105X170(cm)

重量

约400kg
约500kg